DAC8831ICDR | |
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Modèle de produit | DAC8831ICDR |
Fabricant | N/A |
La description | IC DAC 16BIT V-OUT 14SOIC |
Quantité disponible | 3055 pcs new original in stock. Demande de stock et de devis |
Modèle ECAD | |
Feuilles de données | DAC8831ICDR.pdf |
DAC8831ICDR Price |
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Informations techniques de DAC8831ICDR | |||
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Référence fabricant | DAC8831ICDR | Catégorie | Contrôles industriels |
Fabricant | N/A | La description | IC DAC 16BIT V-OUT 14SOIC |
Paquet / cas | 14-SOIC | Quantité disponible | 3055 pcs |
Tension - Numérique, alimentation | 2.7V ~ 5.5V | Tension - Analogique, alimentation | 2.7V ~ 5.5V |
Package composant fournisseur | 14-SOIC | Temps de prise | 1µs (Typ) |
Séries | - | Référence type | External |
Package / Boîte | 14-SOIC (0.154', 3.90mm Width) | Emballer | Tape & Reel (TR) |
Le type de sortie | Voltage - Unbuffered | Température de fonctionnement | -40°C ~ 85°C |
Nombre de convertisseurs D / A | 1 | Nombre de bits | 16 |
Type de montage | Surface Mount | INL / DNL (LSB) | ±0.5, ±0.5 |
Sortie différentielle | No | Interface de données | SPI |
Numéro de produit de base | DAC8831 | Architecture | R-2R |
Télécharger | DAC8831ICDR PDF - EN.pdf |
DAC8831ICDR
Convertisseur numérique-analogique haute précision.
Texas Instruments
Résolution de 16 bits, DAC mono-canal, temps de stabilisation de 1μs, type de sortie en tension - non tamponné, interface de données SPI, type de référence externe, architecture de résistance en échelle R-2R.
Haute linéarité avec INL/DNL ±0.5 LSB et vitesse de transfert de données rapide.
Résolution de 16 bits, interface de données SPI, référence de tension externe.
Boîtier 14-SOIC, largeur de 0.154 pouces (3.90mm), fourni en format bande et bobine pour montage en surface.
Plage de température de fonctionnement de -40°C à 85°C.
Conversion numérique-analogique précise, adaptée aux applications haute vitesse.
Compétitif dans le segment de marché des DAC précis.
Compatible avec les systèmes de protocole SPI.
Conforme aux spécifications de normes industrielles.
Fiabilité à long terme dans des conditions de fonctionnement spécifiées.
Systèmes d'acquisition de données, systèmes de contrôle en boucle fermée, équipements de test et de mesure.
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